Внимание! go-referat.ru не продает дипломы, аттестаты об образовании и иные документы об образовании. Все услуги на сайте предоставляются исключительно в рамках законодательства РФ.
Приговор прибыл для исполнения 1 июня 1773 года, но Емельян Иванович имел на свое будущее собственные планы и за три дня до прибытия указа отбыл их реализовывать, т.е. бежал (в шестой раз!!!) из казан
Наблюдение за кредитами особенно важно на этапе их погашения или когда они становятся просроченными, или же в случае нарушения установленных кредитным договором условий минимальной суммы залога или ве
Поскольку последняя является одним из уровней гражданского общества, постольку глубинные социально-экономические и культурные основы этого общества обусловливают характер государства не непосредственн
Классы - большие группы людей, различающихся по их месту в исторически определенной системе общественного производства, по их отношению к средствам производства, по их роли в общественной организации
Значительным достоинством МОП ИС является и то, что их применение в устройствах позволяет повысить надеж ность и сложность последних, а также предсказывать параметры разрабатываемых на их основе систе
Встановити мікросхему - 0.50 хв. Групова пайка - 1.00 хв. Допайка та ремонт - 1.00 хв. Покриття лаком - 0 . 5 хв. ОРГАНІЗАЦІЙНИЙ РОЗДІЛ ПРОЕКТУ 2.1. Характеристики та економічна ефективність потоко
Безусловно, что современный человек должен знать как и всемирную историю становления института защиты прав человека, и международные пакты о правах человека, так и свои личные, гражданские, социальные
Пожалуй, их наибольший объем сосредотачивает в себе административное право как опора в системе публичного права. Административное право в России и за рубежом имеет длительную историю. Ему посвящены с
Сечение сильно направлено вперед и в пределах 5° весьма низка и полностью определяется некогерентным рассеянием, который зависит только от Z . Эту область называют областью Z -контраста. 2.1 Контраст плотности и толщины На рис.1 показаны изображения частиц латекса на углеродной пленке.
Полагая, что латекс в основном углерод, образец однороден по Z , но неоднороден по толщине t . Поэтому частицы латекса более темные в прямом пучке, чем окружающая пленка, рис.1, однако форма остается неизвестной. Рис.1 С помощью напыления тонкого слоя металла ( Au , Au - Pd ) под некоторым углом к поверхности создается эффект затенения, который в ПЭМ за счет контраста массы (или плотности, а точнее за счет отличия в Z ) позволяет выявить сферическую форму частиц, наиболее отчетливо проявляющуюся при инвертировании изображения (рис.1 в). Контраст плотности и толщины является основным для аморфных, в частности, полимерных объектов. Метод реплик в ПЭМ также основан на контрасте толщины. В методе реплик воссоздается топография поверхности объекта, например хрупкого или разрушающегося образца. В качестве материала реплики используется обычно аморфный углерод.
Реплика может быть без затенения (рис.2 а). Однако затенение металлом под малым углом, резко увеличивает массовый (плотностной) контраст и, как следствие, топографический контраст (рис.2 б). Метод экстракционной реплики также основан на контрасте плотности и толщины (рис.2 в).
Регистрация изображения была в режиме СПЭМ с источником АЭП и круговым темнопольным детектором высокоугловым круговым темнопольным детектором (рис.3 б). Как видно, помимо ярких точек, обусловленных Z -контрастом, на изображении присутствует дифракционный контраст от кристаллической матрицы Al2O3, являвшемся нежелательным фоном. Рис.3 2. Фазовый контраст Мы видим фазовый контраст всякий раз, когда в изображение дает вклад не один, а больше пучков.
Фазовый контраст появляется как результат присутствия разницы в фазе выходящих электронных волн. Так как эта разница очень чувствительна к небольшим изменениям во многих факторах (толщина, структура, состав образца, фокус, астигматизм) в оптической системе микроскопа, то это создает определенные трудности в интерпретации и может приводить к ошибочным выводам. 2.1 Контраст кристаллической решетки Двумерное изображение с высоким разрешением ( ВРПЭМ) кристаллической решетки является классическим примером фазового контраста. На рис.4 приведено ВРПЭМ изображение Si (а) с проекцией Si - структуры (б) и очертанием использованной апертуры (в). Рис.4 На Рис.1 (а) видны очертания, напоминающие гантелеобразные связи между атомами кремния, расположенных в проекции на расстоянии в 0.14нм друг от друга. В использованной апертуре было 13 рефлексов (в). На изображении расстояние в «гантели» соответствует 1.3 нм и таким образом, получается, что расстояние в «гантели» соответствовало плоскостям (004), которые, однако, не участвовали в формировании изображения.
Проблема заключается еще и в том, что, точечное разрешение в ПЭМ составляло лишь ~2.5 нм.
Объясняется это тем, что «гантели» в изображении связаны с наложением пересекающихся полос. 3.2 Контраст муара Контраст муара возникает за счет интерференции структур с близкими периодами решеток.
Имеются два типа муара, трансляционный и ротационный, которые иллюстрируются рис. 5.
Наложение двух векторов в обратном пространстве дает результирующий вектор. Связь g -векторов в трансляционном и ротационном муаре: